2017年4月24日上午，应公司的邀请，美国特拉华大学电子与计算机工程Charles Black Evans杰出教授、IEEE Fellow，贡萨洛 R.阿尔塞 教授（Professor Gonzalo R. Arce）来公司作学术报告，并与公司师生在济事楼417会议室进行了深入的学术交流及研讨，讲座由穆斌副经理主持，北京理工大学马旭教授应邀参加了会议。
Gonzalo R. Arce教授是计算成像、压缩感知和数据科学等领域的国际知名学者。讲座开始后，Gonzalo R. Arce教授首先简单介绍了特拉华大学在计算成像、数据科学及其相关应用领域的研究情况，使学院师生对特拉华大学在相关方向的研究有了更进一步的了解。随后，Gonzalo R. Arce教授做了题为“计算光谱+深度成像（Computational Spectral+Depth Imaging）”的学术报告。
目前，光谱成像技术已能在紫外到近红外的光谱范围内，对目标物体在各个波段上进行成像，同时获得物体的空间信息和光谱信息，具有很高的空间分辨率和光谱分辨率。压缩光谱成像（CSI）采用编码快照方式以少量的二维测量数据捕捉丰富的三维光谱数据。另外，飞行时间（ToF）成像技术可依据参考光与被观测物体入射光的相位差重构出景物深度信息，并具有重构精度高、计算速度快的优势。然而，目前联合采用CSI和ToF同步获取景物光谱和深度成像的技术尚不成熟，具有很大的研究空间。
本次报告中，Gonzalo R. Arce教授介绍了其团队在计算光谱+深度成像领域的创新性工作，特别是联合使用编码孔径压缩光谱成像技术和ToF技术，解决了现有压缩光谱相机无法获取景物深度信息的问题，同时也突破了现有ToF技术的信息获取瓶颈。计算光谱+深度成像技术能够在不同的谱段上完成三维空间景物的重现，真正实现了四维“光谱+深度”数据的获取，进一步突破了传统三维光谱数据获取技术的信息维度，通过后续的数据处理能够使我们获得景物的深层次信息，如同时获取被观测物体的空间位置和材质信息等。基于以上的关键技术创新，Gonzalo R. Arce教授团队还搭建了先进的CSI + TOF实验测试平台。
Gonzalo R. Arce教授的报告深入浅出，对公司师生从事相关领域的学习和研究有着重要的启发作用。报告结束后，Gonzalo R. Arce教授对在场师生提出的问题均做了详细解答，并且希望今后能在高速解算方法软件实现和软件平台搭建等诸多方面与威廉希尔WilliamHill足球师生进行深入合作。本次学术交流现场气氛热烈，师生受益匪浅。
Gonzalo R. Arce教授是美国特拉华大学电子与计算机工程系Charles Black Evans杰出教授、商业与经济学院金融服务分析研究所摩根大通特聘学者（JPMorgan-Chase Faculty Scholar）、IEEE Fellow以及特拉华大学高级研究中心Fellow，2010年成为国际上首位获得“富布莱特-诺基亚信息与通信技术杰出主席（Fulbright-Nokia Distinguished Chair in Information and Communications Technologies）”殊荣的科学家。2017年，Gonzalo R. Arce教授再次获得此项殊荣，出任主席。Gonzalo R. Arce教授已在计算成像和数据科学等领域出版5部著作，发表400余篇高引用期刊和会议论文，并获得15项美国发明专利。他的研究工作受到了美国政府部门（如NSF 、DARPA、ARO、ONR，ARL等）的多项资助，并获得了国际大型企业（如Intel, Samsung, and Hewlett Packard等）的科研项目资助。
