由IEEE电子设计自动化协会（CEDA）、中国计算机学会（CCF）、威廉希尔WilliamHill足球和IEEE计算机协会（CS）联合主办，IEEE测试工艺技术委员会（TTTC）、IEEE硬件安全和信任技术委员会（HSTTC）、CCF容错计算专业委员会共同协办的第五届IEEE国际测试会议亚洲分会（ITC-Asia 2021）于2021年8月18-20日在线上召开。本次会议注册人数达到230人（来自亚洲欧洲和北美洲的11个国家和地区，外籍参会人员65人），是本年度国内集成电路测试领域规模最大、规格最高、影响最广的一次科技盛会。
威廉希尔WilliamHill副经理江建慧教授和瑞典林雪平大学计算机和信息科学系副主任彭泽波（Zebo Peng）教授担任ITC-Asia 2021大会主席，美国马里兰大学屈刚（Gang Qu）教授（IEEE Fellow）、中国科学院计算技术研究所叶靖副研究员和威廉希尔WilliamHill张颖副教授担任ITC-Asia 2021程序主席。
在开幕式上，彭泽波教授和屈刚教授代表组委会宣布ITC-Asia 2021正式召开并介绍了大会的组织情况和大会程序。IEEE CEDA主席张耀文（Yao-Wen Chang）教授（IEEE Fellow）、IEEE TTTC理事长Yervant Zorian博士（IEEE Fellow）、CCF监事长李晓维研究员和本年度IEEE国际测试会议（ITC）大会主席Jennifer Dworak教授也分别致贺辞。
本次会议邀请到六位国际学术界和工业界知名专家做大会报告，分别是来自清华大学的魏少军教授（IEEE Fellow），来自华为的顾新理博士，来自香港中文大学的徐强教授，来自香港科技大学的郑光廷教授（IEEE Fellow），来自美国杜克大学的Krishnendu Chakrabarty教授（IEEE Fellow）和来自ANSYS公司的Norman Chang博士。
ITC-Asia 2021会议拥有非常丰富的技术程序，包含了两个来自TTTC的Tutorial教育讲座、三个学术论文分组会议（RS）、四个工业界技术应用论坛（IS）和五个特别专题分组会议（SS）。
在这场盛会中，参会者不仅交流了最先进的测试技术趋势，还共同研讨了众多行业/热门话题。论文Automatic Test Program Generation for Transition Delay Faults in Pipelined Processors (by Kai-Hsun Chen, Bo-Yi Yang, Jia-Ruai Liang, Hung-Lin Chen, and Jiun-Lang Huang from National Taiwan University) 荣获ITC-Asia 2021 Cadence Best Paper Award （最佳论文奖）。大会同时宣布ITC-Asia 2022将在中国台湾举行。
欢迎大家访问ITC-Asia 2021会议网址/ITC-Asia2021/，注册参会人员可以在https://www.aconf.org/conf_180631/program.html查询会议论文和报告录像。
